纳米虽小，SEM展现
——“锂”尽千新队SEM观察样品表面形态
扫描电子显微镜（SEM）主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。2017年7月6日，今天下起了蒙蒙细雨，给炎热的夏天带来了丝丝的凉意。今天岳老师带领同学们用扫描电子显微镜（简称：SEM）观察制得的产品的表面形态。
由于纳米级别的材料比较小，观察起来困难，而扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是，①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样制备简单。目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析，因此它是当今十分有用的科学研究仪器。因此可以用扫描电子显微镜（SEM）对材料进行观察。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
用扫描电子显微镜看到的材料表面和用肉眼看到的材料表面完全不同，同学们感受到纳米材料的神奇，希望“锂”尽千新队能够突破旧桎梏，闯出新天地。
（供稿人：李航）
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