碳包覆硅，形貌展现

碳包覆硅，形貌展现

——“锂”尽千新队SEM表征

2017年7月4日，“锂”尽千新队经过昨天对产品的XRD表征，用X射线衍射仪对所得到的产品进行物相分析，同学们知道了产品中含有碳和硅，今天早上岳老师又带领同学们用热重的方法分析材料中的碳硅比例，但对于材料中的碳和硅，是同学们想要得到的碳包覆硅材料，还是硅包覆碳材料，同学们并不清楚，因此下午，岳老师带领同学们用扫描电子显微镜（SEM）对产品进行形貌分析，对产品进行SEM表征。

岳老师首先给同学们讲扫描电子显微镜的作用及其工作原理，作用：扫描电子显微镜（SEM）主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。工作原理：扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

看到了产品的形貌特征，同学们对本次试验充满了信心，希望“锂”尽千新队能够突破旧桎梏，闯出新天地。

（供稿人：李航）

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